測(cè)試探針和探針針套是電子測(cè)試領(lǐng)域中用于電路連接與信號(hào)傳輸?shù)年P(guān)鍵組件，二者配合工作，確保測(cè)試過(guò)程的穩(wěn)定性、準(zhǔn)確性和安全性。下面詳細(xì)解析它們的功能原理：

一、測(cè)試探針的功能原理

測(cè)試探針（Test Probe）是直接與被測(cè)對(duì)象（如電路板焊點(diǎn)、芯片引腳等）接觸的核心部件，主要功能是傳導(dǎo)電信號(hào)或電流，實(shí)現(xiàn)對(duì)電路性能的檢測(cè)（如電壓、電流、電阻、信號(hào)完整性等）。

其核心原理基于導(dǎo)電接觸與信號(hào)傳導(dǎo)，具體可拆解為以下幾點(diǎn)：

1. 接觸傳導(dǎo)

探針頭部通常設(shè)計(jì)為尖狀、球狀或扁平狀等，通過(guò)一定的壓力（手動(dòng)或機(jī)械驅(qū)動(dòng)）與被測(cè)點(diǎn)（如焊點(diǎn)、引腳）緊密接觸，形成物理導(dǎo)電通路。探針材質(zhì)多為高導(dǎo)電性金屬（如銅合金、鍍金/鍍鎳合金），減少接觸電阻，確保信號(hào)損耗最小。

2. 彈性緩沖

多數(shù)探針內(nèi)部包含彈簧結(jié)構(gòu)，當(dāng)接觸壓力過(guò)大時(shí)，彈簧壓縮緩沖，避免損壞被測(cè)件（如脆弱的芯片引腳）或探針本身，同時(shí)保證穩(wěn)定的接觸壓力（接觸電阻與壓力相關(guān)，壓力過(guò)小時(shí)接觸電阻會(huì)增大）。

二、探針針套的功能原理
探針針套（Probe Socket/Holder）是固定和保護(hù)探針的輔助部件，其核心作用是定位、固定探針，并輔助探針與測(cè)試系統(tǒng)的連接，確保測(cè)試過(guò)程中探針的穩(wěn)定性和可更換性。

具體原理如下：

1. 機(jī)械固定與定位

針套內(nèi)部有匹配探針尺寸的孔洞或卡槽，將探針固定在特定位置（如測(cè)試治具的PCB板上），保證探針在測(cè)試時(shí)不會(huì)偏移，精準(zhǔn)對(duì)準(zhǔn)被測(cè)點(diǎn)（尤其是批量測(cè)試或自動(dòng)化測(cè)試中，定位精度直接影響測(cè)試效率和準(zhǔn)確性）。

2. 電氣連接過(guò)渡

針套通常與測(cè)試治具的電路連接（如焊接在PCB上），探針插入針套后，通過(guò)針套內(nèi)部的導(dǎo)電結(jié)構(gòu)（如金屬?gòu)椘?、鍍層）與治具電路導(dǎo)通，實(shí)現(xiàn)探針與測(cè)試系統(tǒng)的間接連接，避免探針直接焊接導(dǎo)致的更換困難。

三、二者的配合關(guān)系

探針與針套是“核心傳導(dǎo)部件”與“輔助固定部件”的關(guān)系，共同實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定測(cè)試：

- 探針負(fù)責(zé)直接接觸被測(cè)點(diǎn)并傳導(dǎo)信號(hào)，依賴(lài)針套的固定來(lái)保證位置精準(zhǔn)；

- 針套通過(guò)固定探針，確保其在重復(fù)測(cè)試（如自動(dòng)化設(shè)備的多次插拔）中不會(huì)松動(dòng)或偏移，同時(shí)通過(guò)過(guò)渡連接簡(jiǎn)化探針與測(cè)試系統(tǒng)的電氣連接。